邊發(fā)射激光器測試服務
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邊發(fā)射激光器測試服務
可提供專業(yè)的光通訊激光芯片測試分選服務
測試指標:
·Ith 閾值
·Rs 電阻
·Vop 電壓
·P 功率
·SE 斜效率
·LiPo 飽和
·Kink 功率扭折
·λP 波長
·SMSR 邊模抑制比
·?λ 半波譜寬
·可根據客戶需求調整參數
我們的優(yōu)勢:
· 超過3億顆DFB芯片測試經驗
· 超過500萬顆EML芯片測試經驗
· 溫度測試范圍廣(-40℃~100℃)
· 二十多家客戶服務經驗,其中有超過十家國外客戶
· 數據庫跟蹤每個芯片的測試結果
· AOI可覆蓋脊波導發(fā)光區(qū)2μm
· 范圍完整的樣品、NPI和批量生產制程控制流程
· 完整的金樣、銀樣、校準和GRR控制流程
· 全過程無接觸芯片,避免靜電風險



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